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方案概述

MCU/SoC测试方案概述

金沙总站6165登录入口推出了国内首台自主知识产权的250Mbps及以上的高性能数字混合信号测试系统,其功能业务板采用All-in-One设计,集成直流电压电流激励及测试单元、DSIO功能的数字通道、AWG/DGT资源,实现单板就可以完成MCU、DC、功能、AD/DA测试,为客户提供高性价比的MCU/SoC类芯片测试解决方案。

测试效率优势对比

区分 测试平台/项目 C公司测试平台 金沙总站6165登录入口ST2500产品
A客户 MCU FT测试 并测数 4site 4site
A客户 MCU FT测试 测试时间 3.5s 2.6s
B客户 MCU CP测试 并测数 8site 8site
B客户 MCU CP测试 测试时间 3.3hrs/pcs 2.5hrs/pcs

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