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方案概述

存储芯片测试方案概述

金沙总站6165登录入口推出的250Mbps高性能数字混合信号测试系统,对于市场上EEPROM、中小容量NOR Flash,及嵌入式存储器有着良好的支持。合适的DIO通道与电源、高压源配比及模块化的资源,使得多site扩展简单易行。高容量向量深度,可满足中小容量存储芯片的存储功能测试。系统、各模块间高速通信带宽,算法硬件调度,可有效提升测试效率。

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